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電纜故障測(cè)試儀測(cè)試波形分析及定光標(biāo)方法

發(fā)布時(shí)間:2018-10-30 瀏覽數(shù):214

        在使用電纜故障測(cè)試儀探測(cè)故障時(shí),熟練掌握設(shè)備操作方法至關(guān)重要,分析測(cè)試波形和定光標(biāo)也至關(guān)重要。下面國(guó)電中星就為大家介紹各種測(cè)試波形特點(diǎn)及定光標(biāo)方法。

一、低壓脈沖法測(cè)試開路故障(測(cè)全長(zhǎng)、速度)波形

        低壓脈沖法測(cè)開路斷線故障,或者用電纜好相測(cè)全長(zhǎng)、測(cè)速度(相線開路)時(shí),測(cè)試波形如圖1所示:

圖1低壓脈沖測(cè)全長(zhǎng)波形.jpg

(1)測(cè)試波形特點(diǎn):發(fā)射脈沖與一次反射,二次反射等各反射波形都為正脈沖波形。

(2)定光標(biāo)方法:光標(biāo)起點(diǎn)定在發(fā)射脈沖上升沿與基線交點(diǎn)處,光標(biāo)終點(diǎn)定在一次反射脈沖上升沿與基線交點(diǎn)處。

二、低壓脈沖法測(cè)低阻短路故障波形

        脈沖法測(cè)低阻短路故障,或者將好相非測(cè)試端與鎧裝短接測(cè)全長(zhǎng)、測(cè)速度時(shí),測(cè)試波形如圖2所示:

圖2低壓脈沖測(cè)低阻短路故障波形.jpg

(1)波形特點(diǎn):發(fā)射脈沖為正脈沖波形,一次反射為負(fù)脈沖波形,二次反射為正脈沖波形,三次反射又為負(fù)脈沖波形,依次類推。

(2)定光標(biāo)方法:發(fā)射脈沖上升沿與基線交點(diǎn)定為起點(diǎn),一次反射脈沖下降沿與基線交點(diǎn)定為終點(diǎn)。

三、閃絡(luò)法電流取樣測(cè)試波形

        高壓閃絡(luò)法測(cè)試電纜故障時(shí),其波形變化較大,但大部分測(cè)試波形都有共同點(diǎn),及各類性質(zhì)的故障反射波形全為正波形,且前沿有負(fù)反沖,以電流取樣為例,閃絡(luò)法測(cè)試時(shí)其測(cè)試波形如圖3所示:

圖3閃絡(luò)法電流取樣測(cè)試波形.jpg

(1)波形特點(diǎn):發(fā)射波形為正脈沖波形,反射波形為正脈沖波形,但脈沖前沿有一個(gè)向下的負(fù)反沖,隨故障不同,負(fù)反沖大小有較大差別。

(2)定光標(biāo)方法:在發(fā)射脈沖上升沿與基線交點(diǎn)處定光標(biāo)起點(diǎn),在反射脈沖負(fù)反沖下降前沿與基線交點(diǎn)處,定光標(biāo)終點(diǎn)。若在測(cè)試時(shí)反射脈沖無(wú)前沿負(fù)反沖,終點(diǎn)光標(biāo)定在反射脈沖上升沿與基線交點(diǎn)處。

四、閃絡(luò)法測(cè)試時(shí)故障點(diǎn)不放電波形

        對(duì)于有些高阻故障,加高壓沖擊時(shí),雖然球間隙放電,并且有時(shí)放電聲還較大(干脆),但故障點(diǎn)實(shí)際上并未形成閃絡(luò)放電,而是將電能緩慢釋放掉,這時(shí),顯示波形就無(wú)法確定故障點(diǎn)。故障點(diǎn)不放電時(shí),從波形上可顯示出來(lái),從而可以采取其它測(cè)試方法迫使故障點(diǎn)放電。閃絡(luò)測(cè)試故障點(diǎn)不放電波形如圖4所示:

圖4閃絡(luò)測(cè)試故障點(diǎn)不放電波形.jpg

(1)波形特點(diǎn):故障點(diǎn)不放電波形特點(diǎn)為發(fā)射脈沖為正波形,一次反射脈沖為負(fù)波形,二次反射波形又為正波形,以此類推。同時(shí),發(fā)射波形同反射波形間距離等于電纜全長(zhǎng)。

(2)遇到故障點(diǎn)不放電波形時(shí),可按以下幾種方法迫使故障點(diǎn)閃絡(luò)放電:一是加大放電球隙,提高沖擊電壓;二是加大電容容量,增加沖擊能量;對(duì)于疑難故障,可長(zhǎng)時(shí)間施加沖擊高壓,迫使故障點(diǎn)形成固定放電通道,然后進(jìn)行測(cè)試。

五、沖閃法測(cè)試純短路故障波形

        對(duì)于純短路故障(如直接將相地短接),可用沖閃法測(cè)試(如用沖閃法測(cè)電纜全長(zhǎng)、測(cè)速度)。短路是低阻故障的一個(gè)特例,用沖閃法測(cè)試純短路故障時(shí),波形反射有其特殊性,例如用沖閃法測(cè)相地短接電纜時(shí)測(cè)試波形如圖5所示:

圖5沖閃法測(cè)試純短路故障波形.jpg

(1)波形特點(diǎn):純短路故障測(cè)試時(shí),其波形特點(diǎn)為發(fā)射波形和反射波形都為正脈沖波形,這與低壓脈沖測(cè)試終端開路故障波形相似。

(2)定光標(biāo)方法:分別用發(fā)射脈沖波形及反射脈沖波形上升沿與基線交點(diǎn)定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn)。若是測(cè)故障,其測(cè)試距離就為故障距離;若是用好相終端短接測(cè)全長(zhǎng),則二波形間距離就為電纜全長(zhǎng)。

六、沖閃測(cè)試時(shí)故障點(diǎn)二次擊穿放電波形

        對(duì)于個(gè)別阻值較高的高阻故障,不是一下子故障點(diǎn)擊穿閃絡(luò)放電,而是沖擊電壓越過(guò)故障點(diǎn),先傳到終端,再?gòu)慕K端返回過(guò)程中、電壓疊加,然后故障點(diǎn)才閃絡(luò)放電,此后在測(cè)試端和故障點(diǎn)之間來(lái)回反射,顯示故障點(diǎn)二次擊穿放電波形。沖閃法電流取樣測(cè)試時(shí),故障點(diǎn)二次擊穿放電波形如圖6.6所示:

圖6故障點(diǎn)二次擊穿測(cè)試波形.jpg

(1)波形特點(diǎn):二次擊穿波形特點(diǎn)為發(fā)射脈沖為正脈沖波形,一次反射為負(fù)脈沖波形,并且二次波形間距離為電纜全長(zhǎng)(同故障點(diǎn)不放電波形)。從第三個(gè)波形開始,測(cè)試波形與沖閃測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)波形一致,其間距代表故障距離。

(2)定光標(biāo)方法:二次擊穿波形同時(shí)具有故障點(diǎn)不放電波形及正常放電波形特點(diǎn)。定光標(biāo)時(shí),先定前面二波形,看是否與電纜全長(zhǎng)一致,然后再觀察后面幾個(gè)反射波形,看是否具有前面講的沖閃波形特點(diǎn)(正脈沖前沿有負(fù)反沖,且各反射波形間距一致)。若具有二次擊穿波形特點(diǎn),則按后面具有故障點(diǎn)閃絡(luò)擊穿特點(diǎn)的二波形分別定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn),就可確定故障點(diǎn)距離。

值得注意的是,由于故障性質(zhì)及測(cè)試條件不同,二次擊穿波形也變化較大,有時(shí)第二個(gè)波形(終端不放電反射波形)與第三個(gè)波形間距較大(延時(shí)擊穿時(shí)間較長(zhǎng)),有時(shí)間距小,甚至合二為一(延時(shí)較?。6ü鈽?biāo)時(shí),不管前面幾個(gè)波形多么復(fù)雜,只要后面有正常放電波形,就按后面波形定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn),確定故障距離。對(duì)于故障點(diǎn)二次擊穿波形,測(cè)試時(shí)可以加大球間隙,增加電容容量,提高沖擊電壓,一般就可以測(cè)出正常閃絡(luò)放電波形。

七、沖閃測(cè)試時(shí)近端故障測(cè)試波形

        若故障點(diǎn)距測(cè)試端很近(15-20米以下),沖閃測(cè)試時(shí),測(cè)試波形如圖7所示:

圖7近端故障沖閃測(cè)試波形.jpg

(1)波形特點(diǎn):近端故障用閃絡(luò)法測(cè)試時(shí),其波形特點(diǎn)為;測(cè)試波形為正負(fù)交替的余弦大振蕩波形,并且二波形間距離大于電纜全長(zhǎng),為電纜全長(zhǎng)數(shù)倍。

(2)遇到近端反射波形時(shí),說(shuō)明故障點(diǎn)離測(cè)試端不遠(yuǎn)。要精確測(cè)試,有以下幾種方法:一是到另一端測(cè)試;二是用標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度電纜(如50米或100米)與被測(cè)電纜相連接測(cè)試,在測(cè)試距離后,測(cè)試距離減去所加電纜長(zhǎng)度,即為故障點(diǎn)至測(cè)試端距離;三是用好相與故障相在遠(yuǎn)端相接,將測(cè)試信號(hào)加在好相進(jìn)行測(cè)試。

        綜上所述,能夠快速完成粗側(cè)定點(diǎn)的關(guān)鍵在于正確地分析波形,希望以上的測(cè)試波形的介紹能夠?qū)V大用戶朋友有所幫助。國(guó)電中星是專業(yè)的電纜故障測(cè)試儀生產(chǎn)廠家,研發(fā)生產(chǎn)的電纜故障測(cè)試儀型號(hào)多,性價(jià)比高,歡迎來(lái)電咨詢!